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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
进样,无需手工粗调 ● 只需要更换探针架,即可在STM和AFM等不同类型仪器中切换 ● 全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制 ● 探头
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
集成原子力显微镜(AFM)、摩擦力显微镜(LFM)、扫描隧道显微镜(STM)、磁力显微镜(MFM)和静电力显微镜(EFM) ■ 原子力显微镜具有接触、轻敲、相移成像、抬起等多种
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全自动多功能扫描探针显微镜/AFM
+ 力刻蚀) 扫描方式:样品扫描测量头部:AFM和SPM(全内置自动切换),可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸:直径20mm,厚度10mmXY样品定位装置:移动范围5×5um,软件控制电动定位
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MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜
技术参数 1.扫描系统: 1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量 1.2 zei大扫描范围:50μm*50
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探针,AFM探针,原子力显微镜探针,耗材
原子力AFM探针:VEECO为您提供范围zei广价格zei优惠的AFM探针。这些探针的悬臂都具有不同的几何尺寸和机械性能,能满足各种不同的需求:探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和
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日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II
OSWindows®7连接机型AFM5100N、AFM5300ERealTuneII悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益(Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point
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NenoVision扫描电镜下AFM
,并且Z反馈环与恒力模式AFM一样保持恒定的悬臂挠度。开尔文探针力显微镜KPFM是一种扫描探针法,其中可以使用与宏观Kelvin探针相同的原理来测量探针尖端与表面的局部接触电势差。AFM中的悬臂是一个
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英国NanoMagnetics 原子力显微镜
上海伯东代理英国 NanoMagnetics AFM 原子力显微镜原子力显微镜 (Atomic Force Microscope, AFM), 隶属于扫描探针显微镜 (Scanning
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扫描探针显微镜
生物原子力显微镜,一个强大的三合一生物研究工具,将扫描离子电导显微镜(SICM)与原子力显微镜(AFM)和倒置光学显微镜(IOM)融合在同一平台上。Park NX-Bio的模块化设计允许您在SICM和
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扫描探针光刻系统(SPL)
AFM功能参数样品/探针接近自动(无需激光对准)探针调谐自动悬臂梁激发模式双材料热机械激发检测原理压阻读数扫描模式接触式,非接触式探针移动范围20 mm × 20 mm × 10 mm精度
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