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DektakXT探针式表面轮廓仪
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Dektak XT台阶仪
×585mmW×445mmH(21.6in.L×23in.E×17.5in.H);21.7公斤(48磅) DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率
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轮廓仪
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探针轮廓仪
仪器简介:三维轮廓仪NanoMap-LS 三维轮廓仪NanoMap-LS 拥有超大的扫描范围,仅需按下一个按钮即可产生高分辨率的三维和二维图像 。 三维轮廓仪的应用 三维表面形貌/轮廓仪
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光电轮廓仪
,解决了关键部件的进口难题;增加了自动步距和亮度校正程序,同时增加了局部放大三维立体图功能; WGL光电轮廓仪的参数表面微观不平深度测量范围:130?1nm 测量的重复性:sRa≤0.5nm 测量精度
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单纤维轮廓仪
纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下(例如:拉伸速度、隔距)下力学性能(模量、断裂功和断裂伸长等)、外观形态(纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程)等,通过这些参数的测量来表征
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生物表面轮廓仪
NanoMap-D三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 该款仪器可以看做是表面研究的
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球面镜轮廓仪
) 参数性能测量原理:斐索干涉原理光源波长:632.8nm样品准直:使用两个光点电源:220V 50HZ/ 110V 60HZ操作系统
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日本三丰轮廓仪
技术参数: X1轴 测量范围: 50mm(CV-1000)或100mm(CV-2000) 分辨率: 0.2μm 检测方法: 反射型线性编码器
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Zeta-300 光学轮廓仪
和研究所· 还有更多:请与我们联系以满足您的要求 Zeta-300光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-300继承了Zeta-20的功能,并增加了隔离选项以及处理
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