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NanoCalc薄膜反射光谱仪系统
NanoCalc 薄膜反射测量系统 薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量,对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量
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海洋光学薄膜反射光谱仪系统NanoCalc
NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量,对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同,可以分析单层或多层膜厚。 NanoCalc 薄膜反射测量
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薄膜厚度测量系统
产地属性欧洲价格范围10万-30万这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器。 这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展
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在线薄膜测量系统
及材料性质相关光滑平面样品:透明薄膜可达4000nm,吸收薄膜与材料性质相关选配件样品监视系统自动样品上片系统 注:(1)测量重复性:是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量25次所计算的
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膜厚测量仪 NanoCale
基于反射光干涉来测量膜厚, 不仅适用于非透明基底材料, 也适用于透明基底材料膜厚测量。 膜厚测量仪 NanoCale NanoCalc 薄膜反射测试仪能够实现10nm-250um范围内的膜
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光谱椭偏仪 SpecEL-2000-VIS
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土壤水分测量系统价格
技术参数: 土壤水分测量范围:(可选多层)0~100精度:±3%分辨率:0.1% 土壤温测量度范围:(可选多层)-40~120℃精度:±0.2℃分辨率:0.01℃ 土壤水分测量系统
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耐驰 热反射法薄膜导热系数测量仪
热反射(Thermo-Reflectance)方法基于超高速激光闪射系统,可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数,如热扩散系数(Thermal Diffusivity)、热导率(Thermal
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薄膜厚度测量系统TF200
/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸(可选微光斑附件。)2mm2mm2mm2mm是否能在线是是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选XY可选 TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度
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薄膜厚度测量系统Delta白光干涉测厚仪
或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm2mm是否能在线是是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选XY可选 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜
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