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岛津EPMA-1720系列电子探针
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日本电子(EPMA)JXA-8530F Plus肖特基式场发射电子探针显微分析仪
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岛津EPMA-8050G场发射电子探针
卓越的空间分辨率 电子探针可达到的zei高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV),分析条件下No.1的二次电子分辨率。 (加速电压10kV时20nm@10nA
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岛津SXES软X射线分析谱仪
位置:EPMA的WDS接口:NO.2接口(正面右侧)FE-SEM的WDS接口(正面左后侧)分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CCD的距离分光谱仪重量 25kg
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日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪
X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC
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电子探针
。电子探针分析如今是在多种领域中不可或缺的重要分析手段。 EPMA-1600/1610为数字式EPMA,操作简便性和可靠性兼备,这是以往的EPMA难以做到的。 以往的EPMA模拟操作和数字操作混在
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SKAPHIA适用于放射性样品的带屏蔽功能的电子探针显微分析仪
适用于放射性样品的带屏蔽功能的电子探针显微分析仪SKAPHIA为核样品的处理和分析提供了安全的环境以及基准分析性能,使科学家能够更深入地了解燃料性能,探索辐照材料行为和辐射损伤过程,开发新型
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电子探针
服务详情电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后的元素以外都可
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SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列
( Solid Angle) 和更高的输出计数率。XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准
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水冷机
光谱仪(XRF)、X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)、原子吸收光谱仪(AAS)、等离子光谱仪(ICP)、等离子体质谱仪(ICP-MS)、电子探针分析仪(EPMA)、扫描电镜(SEM
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