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FT230用于镀层分析的全自动XRF
FT230台式XRF分析仪元件范围Al (13) - U (92)探测器硅漂移SDD检测器腔室设计开槽或已关闭XY舞台设计电动或固定XY 载物台行程250 x 200 毫米电动 Z 轴行程
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列
美国博曼:美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
(12“),深度:335mm(13“)高度:450mm(18“),宽度:450mm(18“),深度:600mm(24“)关于美国博曼:美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12 关于美国博曼:美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列
焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。 关于美国博曼:美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列
博曼O系列可满足以下类型用户的需求:- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB- 需要测试多个样品的多个位置- 需要测量非常薄的涂层
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 G系列
:300mm(12“)高度:400mm(16“),宽度:400mm(16“),深度:380mm(15“)关于美国博曼:美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
:600mm(24")高度:750mm(30"),宽度:700mm(28"),深度:750mm(30")关于美国博曼:美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列
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