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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
主要特点:1.以较低的功率达到测硫0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。2. 六位样品自动进样系统提高仪器使用效率,节省人员工时成本。3. X光源照射面积大,分析均匀稳定4.扣
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
参数:基本参数:型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)测量元素:原子序数13(Al)~92(U) X射线源:管电压:45 kV
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X射线测硫仪
17040-2008《石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法(X射线光谱法)》的相关要求,同时完全符合美国国家标准
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浪声台式x荧光镀层测厚仪 涂层镍层测厚 ScopeX COAT1
)。 完善的安全防护在测量过程中,仪器左右两侧辐射指示灯自动呼吸闪烁,内置DoubleBeam™ 技术自动感知仪器前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级。 准确可靠的定性定量方法集成了浪声前沿的
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X射线荧光仪GOLDSCOPE
特点紧凑且耐用的台式仪器,采用X射线荧光法进行无损的材料分析硬件和软件都是针对黄金和贵金属分析进行优化的样品放置简便,采用了宽敞的测量舱和自下往上的测量方向符合标准EN 61010, DIN ISO
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