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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
、比较表示使用电源:220V/7.5A自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。 通过自动定位功能,只需把样品放在样品
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日立 SFT-110 X射线荧光镀层厚度测量仪
微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准
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日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS
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日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能 概要: 高速X射线管球的搭载,实现了高精度的测定。而且配合极微小准直器和光学变焦镜头可以实现极微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品
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日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
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X射线荧光镀膜厚度测量仪
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDLM系列
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XUL系列
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-u
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XDVM-W X-射线荧光镀层厚度测试仪
技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 3.测量箱外部尺寸
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