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探针,AFM探针,原子力显微镜探针,耗材
原子力AFM探针:VEECO为您提供范围zei广价格zei优惠的AFM探针。这些探针的悬臂都具有不同的几何尺寸和机械性能,能满足各种不同的需求:探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
■ 操作简便,只需要更换探针架,即可切换于STM和AFM等模式 ■ 主控制系统采用德州仪器(TI)32位数字信号处理器(DSP),每秒可实现高达10亿次32位运算 ■ 主控
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
进样,无需手工粗调 ● 只需要更换探针架,即可在STM和AFM等不同类型仪器中切换 ● 全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制 ● 探头
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全自动多功能扫描探针显微镜/AFM
技术参数:测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀
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MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜
技术参数 1.扫描系统: 1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量 1.2 zei大扫描范围:50μm*50
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日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II
OSWindows®7连接机型AFM5100N、AFM5300ERealTuneII悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益(Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point
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AFM-拉曼系统(Raman-AFM System)
通光效率大于30% 空间分辨率:横向0.5微米,纵向2微米低波数:200 cm-1,100 cm-1,50 cm-1,10 cm-1供选择 可选激光器:紫外到近红外,10余种不同波长供选择 光谱
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纳米光学-AFM联用系统
该解决方案是AFM与光学联用目前zei完美的解决方案。 原子力显微镜兼容目前四大厂牌的倒置显微镜(Zeiss,Nikon,Olympus,Leica) 能够和倒置显微镜、拉曼光谱系统、光子
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硅片表面形貌测量 AFM
10 x 5mm ( 可配置为不限制样品尺寸 )硅片表面形貌成像图 硅片表面粗糙度成像图 英国 NanoMagnetics 仪器 1998年在牛津成立, 作为原子力显微镜 AFM 制造商, 主营环境
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FM-Nanoview1000AFM
、反馈采样速率:64.0KHz14、计算机接口:USB2.015、运行环境:运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;精密激光及探针定位装置,更换
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