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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
0.06nm使用TEM校正器非线性信息分辨极限0.06nm非线性信息分辨极限0.08nm线性信息分辨极限0.09nm线性信息分辨极限0.12nm JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像
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ARM显微共焦角分辨光谱仪
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德国Behr SMA-ARM重金属消解系统
型号描述230 V~ Art.-No.SMA-ARM 6王水消解重金属设备,6位,微处理器控制80 48 80011SMA-ARM 12王水消解重金属设备,12位,微处理器控制80 48
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JEOL JEM-Z300FSC(CRYO ARM 300) 冷冻透射电镜TEM
报价;5.3 铜网固定环及其优惠报价。 场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品
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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜
, etc.JEM-ARM200F 规格分辨率扫描透射像1) 0.08 nm2) (加速电压为200kV时)透射像 0.19 nm (加速电压为200kV时)点分辨率 0.11 nm (使用成像系统球
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜
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JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差
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日本电子JEM-Z200FSC (CRYO ARM 200)场发射冷冻电子显微镜
(换样室) 105k以下 换样量 一次zei多换4个样 样品台载样量 zei多载样12个 场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体
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摇床
with side arm capacity only or models with side arm and top platform capacity. Platform models can
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冷场发射球差校正透射电镜
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使
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