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碲化镉(CdTe)晶体
碲化镉(CdTe)晶体基片广泛应用于X射线检测;红外光学;外延基片等相关领域。我们向客户提供不同尺寸及晶向的碲化镉单晶。 晶体结构立方 F43m a = 6.483?生长方法PVT熔点
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Pilatus3X CdTe 系列探测器
优秀的点扩散函数;l 高达500 Hz的帧速率;l 在室温下工作; PILATUS3 X混合光子计数探测器结合碲化镉(CdTe的)传感器材料表现出的优异的探测能力。PILATUS3 X
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混合像素X射线探测器PILATUS3R CdTe
技术参数: PILATUS3 R CdTe300K300K-W探测器模块数量1 × 33 x 1有效面积:宽×高 [mm2]83.8 × 106.5253.7 x 33.5像素大小
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瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 X/XE CdTe
技术参数:型号EIGER2 X CdTe 500KEIGER2 X CdTe 1MEIGER2 X CdTe 4MEIGER2 X CdTe 9MEIGER2 X CdTe 16MEIGER2
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瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 R CdTe
技术参数:型号EIGER2 RCdTe 500KEIGER2 R CdTe 1MEIGER2 R CdTe 4MEIGER2 R CdTe 2M-WEIGER2 XE CdTe 1M-W有效
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瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器PILATUS3 X CdTe
技术参数:PILATUS3 X CdTe300K300K-W1M2M探测器模块数量1 x 33 x 12 x 53 x 8有效面积:宽×高 [mm²]83.8 x 106.5253.7
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瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器PILATUS3 R CdTe
技术参数:PILATUS3 R CdTe1M300K300K-W100K探测器模块数量2 × 51 × 33 × 11 × 1有效面积:宽×高 [mm²]168.7 x
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X射线及γ探测系统
。XR-100T-CdTe 代表在X-射线探测器技术的一个突破,可提供"现成的"结果,而以前则只能从昂贵的低温冷却系统得到。另外XR-100T-CdTe还适用于伽马射线的测量。 AXAS 系统
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MProbe RT薄膜测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS
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MProbe NIR薄膜测厚仪
和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量
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