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MProbe RT薄膜测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS
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MProbe NIR薄膜测厚仪
和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺
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MProbe Vis薄膜测厚仪
(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。 MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的
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太阳能光伏电池绒面材料测量仪
技术属于国内首创,性能达到国际先进水平。 光伏(PV)行业应用: • 绒面单晶和多晶材料 • 光面材料 • CIS/CIGS,CdTe,SiNx等 • 有机光伏材料
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连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
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Map薄膜厚度测绘仪
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成像模块HYPERCUBE
IMA™提供光谱和空间分辨图像。它已成功地用于研究CIS,CIGS,GaAs和钙钛矿型太阳能电池的光电特性的空间分布。癌细胞中的纳米颗粒当Photon etc.的高光谱成像仪与高效的暗场聚光镜相结合
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Photon荧光高光谱成像系统IMA
,CIS,CIGS等)。在复杂的环境(包括活细胞和组织)中研究IR标记。以在第二生物窗口中发射的IR荧光团的光谱异质性为例。检索暗场图像并获得透明和未染色样品(例如聚合物,晶体或活细胞)的对比度。特点
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Photon高光谱拉曼成像系统RIMA
,CIS,CIGS等)。在复杂的环境(包括活细胞和组织)中研究IR标记。以在第二生物窗口中发射的IR荧光团的光谱异质性为例。检索暗场图像并获得透明和未染色样品(例如聚合物,晶体或活细胞)的对比度。特点
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