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MProbe RT薄膜测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
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MProbe NIR薄膜测厚仪
和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量
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MProbe Vis薄膜测厚仪
(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。 MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的
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PP薄膜-PE薄膜-PVC
,仅二个步骤即可显示密度值。显著的特点是测量精准、操作简便快捷、稳定耐用、经济实用,适合生产现场和品质监测等领域。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300采用一体注塑成型大容量测量配件
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Map薄膜厚度测绘仪
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连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪产品特点:通用表座采用空气阴尼装置,测量稳定可靠集光、机、电、算于一体,体积小,使用方便备有精密可调的多功能测量工作台选购备有RS232通讯接口可与计算机进行通讯采用计量光栅作长度长
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薄膜烘箱
薄膜烘箱适用范围 本方法适用于测定道路石油沥青旋转薄膜烘箱加热(简称RTFOT)后的质量损失,并根据需要测定旋转薄膜加热后,供应商河北大宏实验仪器有限公司沥青残留物的针入度、粘度、延度及脆点
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PET薄膜
PET薄膜形状 有无保护膜长×宽最小厚度片材有20×30cm Min-200um片材无20×30cm Min-125um用途制备PET石墨烯膜,或者其他用途特点高透光度,表面无水波纹,无晶点
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