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新型混合像素电子探测器DECTRIS ELA
高级数据收集。 采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱(EELS)提供了前所未有的速度,灵敏度和动态范围,是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远
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ELA-瑞士DECTRIS新型混合像素光子计数探测器
电子探测器快速而灵敏,能够在电子能量损失光谱 (EELS) 和 4D 扫描透射电子显微镜 (STEM) 中进行先进数据收集。2.应用领域-电子能量损失谱(EELS)-4D STEM
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JEM-F200冷场发射透射电镜
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Titan Themis TEM透射电镜
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Gatan 646/616冷冻样品杆
(EDS) 和电子能量损失能谱法 (EELS) 分析用于 EDS 应用时,样品杆头部的几何形状经过优化设计,减少 EDS 分析的阴影液氮冷冻样品杆型号 最低工作温度 铍压片 样品定位
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日立200kV球差校正透射电镜HF5000
谱仪3.1.3 配备有高空间分辨率、高灵敏度的二次电子或背散射探头3.1.4 高性能底插相机,具有原位成像功能3.1.5 电子能量损失谱仪GIF/EELS,具有采集能量过滤像(EFTEM)的功能,具有
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HF-3300场发射透射电子显微镜
样品的原子分辨率图像,而在金属和陶瓷等高原子序数样品观测时由于电子透过能力弱,300KV高压更是经常需要用到。独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨电子能量损失谱(EELS)和
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Tecnai G2 Spirit 120kV透射电子显微镜
、EDX能谱仪、EELS电子能量损失谱和能量过滤器)可以全部集成到一个系统之中, 通过一个显示器、鼠标和键盘进行操作。技术参数:1.点分辨率 TWIN 0.34 nm / BioTWIN
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665 户外全谱粒径谱仪
EDM665主要技术参数 测量范围大于120个粒径通道粒径监测范围: 5纳米—32微米zei小监测时间 300秒数浓度检测范围: 1—10^7个/cm3 激光粒径谱仪粒径范围: 250纳米
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HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
透射电子显微镜:相衬图像(TE图像) 暗场扫描透射电子显微镜:原子序数衬度图像(Z衬度图像) 二次电子图像(SE图像) 电子衍射* 特征X射线分析和面分布(能谱
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