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FIB 系列高品质能量光纤定制
提供的石英光纤专为光谱测量设计,具有高通量、适用波段覆盖从深紫外到近红外全波段,配置丰富的特点。采用复享FIB系列高品质石英光纤并配合复享光纤光谱仪、光纤光源和其他附件可以搭建各种适合您的光谱测量系统
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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
全新的Helios Hydra双光束系统,研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下,使用者可在十分钟内快速、轻松地
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FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB
SEM:分辨率:3.5nm at 30kV高真空模式、ESEM环境真空模式 SEM:加速电压200V-30kV FIB:分辨率 7nm at 30kV; FIB:加速电压
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高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
项目内容FIB二次电子像分辨率(C.P)4 nm @ 30 kV、60 nm @ 2 kV加速电压0.5 kV – 30 kV探针电流范围0.05 pA – 100 nA离子源GA液体金属离子源
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统(XM)分析潜力高亮度肖特基发射可获得高分辨率,高电流和低噪声的图像选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像三透镜大视野观察
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Helios 600 NanoLab FESEM/FIB"双束"显微镜
工作距离 4mm 5nm FIB @ 30kV,束交点工作距离 16.5mm 2.加速电压范围: SEM: 30kV 至 350V FIB: 30kV 至 500V 3.探测器: 新一代
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JIB-4610F聚焦离子束双束(FIB)
。技术参数:FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 1.2nm, 30kV 气体输入系统 1-3 聚焦离子束 双束 场发射 主要特点:监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
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PP3010 Cryo-FIB/SEM 冷冻传输制备系统
)Versa 3 D FIB/SEM)太阳神 650 (FIB/SEM)。J停产JEOL 7800F FE-SEM.日立高新技术左:日立SU500 FE-SEM。右图:日立SU8230 FE-SEM
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
field 50x50 µm2)Courtesy of EMPA, Thun, SwitzerlandTOP-SIMS作为一个附件安装在使用镓离子源的FIB电镜上,因而不需要再安装其它的离子源。在这
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扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪Hysitron PI 88
扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪:布鲁克Hysitron PI 88 PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统,其最大特点是系统设计高度模块化,后期可在已有系统上自行配置并拓展其他
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