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泰勒霍普森 PGI Freeform 自由曲面测量仪
Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面测量系统使得制造商能够精确测量其光学元件并与设计资料进行比较。该系统采用栅式/径向扫描方式进行测量,可以提供球面元件、非球面元件
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5900 SVDV ICP-OES
同步测量,垂直炬管和采用 Freeform 自由曲面光学技术的全新光学系统设计提高了灵敏度和分辨率。5900 标配质量流量控制雾化器、等离子体气体、辅助气体和补偿气通道。5900 ICP-OES 仪器
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5800 ICP-OES 电感耦合等离子体发射光谱仪
快速同步测量,垂直炬管和采用 Freeform 自由曲面光学技术的全新光学系统设计提高了灵敏度和分辨率。所有配置均标配质量流量控制雾化器、等离子体气体、辅助气体和补偿气。5800 ICP-OES 还
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