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JEM系列自动校直机
主机型式 JEM20 JEM30 JEM40 主机型式 门型 可校轴外径 φ20~φ40 φ30~φ45 φ35~φ55 可校轴长 ≤1000mm 修正点数 ≤5 测量
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JEM-F200冷场发射透射电镜
超高分辨极靴高分辨极靴分辨率TEM点分辨率0.19 nm0.23 nmSTEM-HAADF 像0.14 nm @冷场枪0.16 nm @冷场枪0.16 nm @热场枪0.19 nm @热场枪加速
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日本电子JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
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JEM-2100 透射电子显微镜
高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力 200kV的JEM-2100通用型电子显微镜,由PC一体化管理各种功能,性价比高,能支持生物、生物到材料等所有领域的研究和开发。配有高性价比的
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JEM-2800 高通量透射电子显微镜
可用性极高,能兼顾高分辨率观察和快速分析的TEM/STEM装置;JEM-2800 是一台性能极高,能兼顾高分辨率观察和快速分析的TEM/STEM装置。 JEM-2800 是一台性能极高,能兼
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JSM-2200FS能量过滤场发射透射电镜
放大倍率: 50X-1,500,000X加速电压: 80,100,120,160,200分辨率: 0.19nm仪器种类: 场发射JEM-2200FS透射电子显微镜,标配场发射电子枪和镜筒内置式能量
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JEM-2100Plus 透射电子显微镜
– 15,000*1 : 订购时请指定物镜种类。*2 : 为选配件。 拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了zei新的控制系统,大幅提高了可操作性 JEM
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JEM-2500SE 透射电子显微镜
STEM分辨率:0.2nm Lattice TEM分辨率:0.14nm Lattice 加速电压:80 to 200 kV 放大倍数:x100 to 20,000,000 单键切换
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JEM-1400Plus 透射电子显微镜
驱动样品台 样品移动范围:X/Y,2mm;Z,1mm;zei大倾斜角,±70度 扩展性好,可以安装STEM和EDS等附件,对于样品的综合分析能力非常强 新开发的JEM-1400Plus透射
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JEM-2200FS 透射电子显微镜
有利于得到稳定的分析谱数据 JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。 利用过滤器的功能,不仅可以进行样品中的元素分析,还能分析化学结合状态
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