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钨灯丝扫描电镜 SEM3300
产品参数电子光学系统电子枪类型预对中型发叉式钨灯丝电子枪分辨率2.5 nm @ 20 kV4 nm @ 3 kV5 nm @ 1 kV放大倍率1 x~300,000 x加速电压 0.1 kV~30
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赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM
/X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG)枪亮度 200 kV4×108 A /cm2 srad (S-FEG) 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 2.4×109
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GATAN Ilion II 697氩离子束抛光系统
、 抛光角度: +10° 到 -10° ,每个离子枪可独立调节3、 离子束能量: 100 V 到 8.0 kV4、 离子束流密度: 10 mA/cm2 峰值5、 抛光速度: 300
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Gatan氩离子抛光系统Ilion II 697
调节3、离子束能量: 100 V 到 8.0 kV4、离子束流密度:10 mA/cm2 峰值5、抛光速度: 300 μm/h(8.0 kV条件下对于硅试样)4.2样品台6、样品装载
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绝缘油耐压测定仪
技术指标1) 升压器容量:1.5 kVA2) 升压速度:2.0 kV/s,2.5 kV/s,3.0 kV/s,3.5 kV/s 四档任选3) 输出电压:(0~80)kV4
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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜
200 kV4) 样品台样品台 全对中侧插式测角台样品尺寸 直径3mm样品倾斜角 zei大25°(使用双倾台)移动范围 X/Y:±1.0mm(马达驱动) 球差校正器照明系统的球差校正器(STEM
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