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大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
技术参数M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。可选用比例计数器(PC)或 高分辨率硅漂移探测器(SDD)激发:微焦点,高性能,带侧窗,钨靶高电压:50 kV,50W探测器:大面积正比计数器
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碳硫分析仪G5 CRIUS
测量范围碳:0-6%、硫:0-1%灵敏度0.01ppm分析时间40s精度0.0001%技术参数:1、分析范围: C 0.1ppm - 6% (双量程)S 0.1 ppm - 0.35%(双量程);通过
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布鲁克 能量色散X射线荧光光谱仪 ELIO
荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析,具备高性能,高准确度和高精确度。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快
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布鲁克S8 LION多道荧光仪
X射线光管功率:3-4kW分析元素种类:6C-92U仪器种类:多道型 新型的 S8 LION 同时型波长色散 X 射线荧光仪 (WDXRF) 在水泥、矿物及采矿工业过程与质量控制中提供了
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布鲁克移动式直读光谱仪Q4 MOBILE
检测器类:双检测器(PMT+CCD)激发方式:火花低脉动ARCzei大5A频率范围50-1000Hz(火花模式)激发枪:新型复合线缆,长度4M/10M可选低脉动ARCzei大5A频率范围
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布鲁克 艺术与考古分析仪TRACER 5
TRACER 5规格规格激励源50kV,4W,Rh 目标操作员可调节电流和电压,以实现最佳激励。检波大有效面积20mm2 SDD探测器,带石墨烯窗口
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Bruker布鲁克 便携仪式XRF分析仪 CTX
能量分辨率: 145 eV分析含量范围: -10°C到+40°C(+14°F到104°F)元素分析范围: Mg - U,’Ti - U,Cl - UCTX 规格规格尺寸/重量重量轻:7.1 千克
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布鲁克S8 DRAGON全元素同时型X射线荧光仪
固定道与能量通道相结合的全元素同时型X射线荧光仪-S8 DRAGON zei近,探测器技术的发展,将EDXRF分析技术推向了一些新的应用领域。传统的正比计数器受限于它的光谱
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M6 JETSTREAM 高分辨率大面积微区XRF成像光谱仪
荧光光谱仪(MICRO-XRF)M6 JETSTREAM高分辨率大面积微区XRF成像光谱仪移动式微区XRF元素成像光谱仪超快元素成像2 x 60 mm2 SDD 面积双硅漂移探测器,可快速获取样品元素
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氧氮氢分析仪G8 GALILEO
G8 GALILEO技术参数规格优势探测器氧非色散红外吸收法测量CO,无活动部件,拥有参比光束和机载线性化的双量程检测器可靠、免维护、无漂移氮和氢拥有参比通道和可调增益放大器的热导式检测器可靠、可调
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