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LESA® 多通道纳喷离子源
LESA® 多通道纳喷离子源,由美国橡树岭国家实验室发明并由美国 Advion 公司商品化生产。原理是通过成像技术和数码控制,精确定位样品采样点,用一滴溶剂对样品或组织进行表面微萃取
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LESA 纳喷机器人离子源
液体萃取表面分析(LESA)由美国橡树岭国家实验室(ORNL)的Vilmos Kertesz 和Gary J. Van Berkel于2009年发明并申请zl。该技术随后被授权给美国
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LESA Plus 静态液滴萃取表面分析质谱离子源
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Flowprobe 流动微萃取探针离子源
Gary Van Berkel 博士发明了静态液滴萃取表面分析(LESA)之后的又一创新发明。 该技术基于液相微临界表面取样探针 (LMJ-SSP) 原理,其萃取效率在商品化的原位电离技术中首屈一指
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SICRIT 流过式介质通路放电源
电喷雾源(DESI)、液滴萃取表面分析源(LESA)等发源于“诺奖”级质谱技术如电喷雾(ESI)及大气压化学电离(APCI)之后,新一代革命性的常压离子发生技术。SICRIT(Soft
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QTRAP 6500+ 三重四极杆-线性离子阱复合质谱系统
、PhotoSpray 和 NanoSpray III 离子源;SelexION+ 差分淌度分离设备、Phytronix LDTD 离子源、Advion LESA Clarity、Digital
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