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Zetasizer Ultra纳米粒度仪
粒径测量和分子尺寸测量原理:动态光散射Dynamic light scattering (Non-Invasive Back-Scatter - NIBS)Dynamic light
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马尔文Zetasizer Nano ZSE
“NIBS”光学器件,可增强对聚集体的检测,还可测量小尺寸或稀释样品,以及极低浓度或高浓度样品。 ZSE还包含了电泳光散射法表征颗粒、分子的zeta电位分析仪,以及静态光散射法表征分子量。与使用90度
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Zetasizer Pro纳米粒度仪
颗粒粒度及分子大小测量原理: 动态光散射(非侵入式背散射 - NIBS) 动态光散射(13°、173°)测量角度: 173°、13° ¹测量范围:直径:0.3 nm - 10 μm ²zei
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马尔文纳米粒度电位仪Zetasizer Nano ZSP
(1)动态光散射法用于测量粒度及分子大小。DLS可测量作布郎运动颗粒的扩散情况,并采用斯托克斯-爱因斯坦方程将其转化为粒度与粒度分布。包含的非侵入式背散射技术(NIBS)使系统具有最高的灵敏度
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Zetasizer Nano系列纳米粒度和Zeta电位仪
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马尔文纳米粒度、Zeta电位和绝对分子量分析仪Zetasizer Nano ZS
。粒度 - NIBS 技术可以对粒径范围0.3 纳米至 10 微米的颗粒和分子进行测量。Zeta 电位 - M3-PALS 技术能够对水分散和非水分散体系中的 zeta 电位进行精确的测量。分子量
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Zetasizer Nano ZS90纳米粒度仪
湿度:35% - 80%无冷凝备注:*:zei大范围,以样品为准**:25°C条件下zl:Zetasizer Nano系列受以下zl保护:|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580
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