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WITec扫描近场光学显微镜SNOM
技术参数: ◆工作模式:近场显微镜,共聚焦显微镜,原子力显微镜三种工作模式 ◆近场光学显微镜分辨率:为50nm ◆共聚焦拉曼显微镜分辨率:200nm
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Nanonics近场光学扫描显微镜(NSOM/SNOM)
技术参数:原子力扫描表征 -接触模式(可选) -探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射,反射,收集,激发模式界面差别对比表征 -反射
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MVI散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM
定位检测噪声: ≤ 50pm RMS样品台移动范围: 6mm×6mm样品尺寸: 直径 ≤ 25mm, 厚度 ≤ 10mm 有别于传统的扫描近场光学显微镜,Vista-SNOM基于zl的光诱导力显微镜
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NT-MDT多功能自动化AFM-Raman-TERS和SNOM系统
NTEGRA Spectra II多功能自动化的AFM-Raman-TERS和SNOM系统主要特点:o 多功能高性能原子力显微镜o 可从顶部,侧面和底部引入光路进行近场光学、拉曼和
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近场光学显微镜
支持两种不同的SNOM方式:光纤式SNOM和悬臂梁式SNOM所有的SNOM功能模式:透射模式,反射模式,收集模式。 所有SNOM的信号都可以被检测:激光强度,荧光强度,光谱信号
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Nanonics MV2500 红外近场探针扫描显微镜
几十年的发展Nanonics研发了市场上最先进的功能性SNOM系统。孔径式SNOM系统,多探针SNOM系统和无孔径散射式SNOM系统可用于UV,可见光,红外和太赫兹波段。 Nanonics公司历史
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Anasys nanoIR3-s纳米红外&扫描近场光谱和成像系统
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Attocube极低温强磁场扫描近场光学显微镜
技术参数: Attocube公司推出了适应于极低温、强磁场、高真空环境中的四大类扫描探针显微镜,包括共聚焦显微镜CFM、扫描近场光学显微镜SNOM、原子力显微镜AFM和
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纳米光学-AFM联用系统
、导电AFM,光纤SNOM等 独特的光纤耦合探测单元用于外部的探测器(如PMT、APD等) NanoWizard®纳米光学扫描头集成一光纤SNOM接口,且系统可进行散射式SNOM实验 光学视野内的纳米
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NTEGRA Spectra II原子力显微镜
高性能多功能AFM从顶部,侧面和底部的光学访问针对拉曼,TERS和SNOM进行了优化灵活的光学设计提供激发/收集配置的任何组合自动AFM激光,探头和光电二极管对准用户友好的AFM注册系统激光
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