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蔡司X射线显微镜Xradia CrystalCT
蔡司Xradia CrystalCT是为您揭示样品晶体信息和微观结构秘密的开创性微米CT。本产品以其独特方式扩展了计算机断层扫描的强大技术,使其具有展示晶体晶粒微观结构的能力,改变了研究
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蔡司Xradia Context microCT X-ray系统
蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位,您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和
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蔡司X射线显微镜 Xradia 410 Versa
Xradia 410 Versa 填补了高性能三维 X 射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描(CT)系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的
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蔡司X射线显微镜Xradia 810 Ultra
Xradia 810 Ultra 将纳米级三维 X 射线的成像性能提升 10 倍。这款创新的 X 射线显微镜(XRM) 能在 5.4 keV 的低能量下工作,为中低原子序数样品及科学与工业领域内的
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蔡司X射线显微镜 Xradia 800 Ultra
创新的 Xradia 800 Ultra,将高通量实验室 X 射线源与专业的X 射线光学器件整合至一套独立的超高分辨率 CT 扫描 X 射线显微镜中,从而填补了 SEM、TEM 或 AFM
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ZEISS Xradia 520 Versa X射线显微镜
) 1套 5. 选购附件、备件及消耗品:无 亚微米X射线显微镜 Xradia 520 Versa 基于业界前沿的高分辨率和衬度成像技术,拓展了无损成像的应用局限。创新的成像衬度和图像采集技术让你
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ZEISS Xradia 610 和620 Versa 3D X射线显微镜
蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术,Xradia 610 & 620 Versa
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蔡司Xradia 515 Versa三维X射线显微镜
蔡司 Xradia 515 Versa 得益于两级放大的架构,可实现大工作距离下亚微米级分辨率成像(RaaD)。减少对单级几何放大的依赖性,在大工作距离下依然保持了亚微米级分辨率
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Zeiss Xradia 510 Versa高分辨率三维 X射线显微镜
电子显微镜或光学显微镜实现关联,即可以将所得三维图像数据导入到电镜软件中,实现二维与三维数据关联,并可坐标定位相关的目标位置 即使在长工作距离下,距离射线源数毫米至数厘米 蔡司 Xradia 510
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用于X断层扫描系统的DEBEN之CT5KN型拉伸台
CT断层扫描系统的CT5KN型DEBEN拉伸台 Deben公司可以定制一系列用于微米/纳米级的断层扫描系统特别设计的拉伸台。与NIKON, GE 和 Xradia等出品的X射线实时成像检测系统
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