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过程分析技术
PAT 可为活性化学反应提供实时监控。将内联 PAT 嵌入到 HEL 公司的 WinISO 控制软件后,化学驱动控制回路成为可能-为过程控制和优化增加了一个新维度。过程分析技术(PAT)过程
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Niton XRF 分析仪
10、荣获奖项 尼通产品技术性能卓越,曾三次荣获素有“产品研发诺贝尔奖”之称的R&D100全球科技研发大奖,是唯一获此殊荣的手持式XRF分析产品;2006年获得国际zei著名reddot design
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Agilent 热脱附 (TD) 分析技术
● SecureTD-Q™(定量地再采集所有分流流路进行重复分析),这项技术解决了传统的 TD 方法只能分析一次的限制,简化了方法/数据验证● 吸附管电子跟踪技术 (TubeTAG
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标准型XRF分析晶体
Fluorescence (XRF) LiF crystal types exist in a variety of lattice planes (200, 220, 420, etc.
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高精度XRF分析仪
高精度XRF分析仪参数从12mg镁到92U铀(可选11Na),在一个单一的测量中同时确定元素被测元素的含量范围0.005-100 %元素检测限制-1ppm测量时间- 少于1分钟。 (一般为
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奥林巴斯 XRF分析仪 Xpert
用于监管项目的Xpert监查产品在消费者安全与RoHS方面的合规情况 用于消费产品和RoHS合规监管项目的Xpert是一款使用方便的袖珍轻便型XRF分析仪,可在几秒钟之内提供精确的
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奥林巴斯 XRF分析仪 GoldXpert
关系。我们了解这个行业,我们相信我们的客户可以依赖我们的仪器取得生意上的成功。我们的分析仪可靠,准确,我们致力于支持您和您的投资。 无论何时何地,X射线荧光分析仪每天都能完成大量的测试任务。该技术
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多层膜型XRF分析晶体
Multilayers XS-55, XS-N, XS-C, XS-BMultilayers are not natural crystals but artificially produced
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ReactIR™ 实时在线FTIR反应分析技术
中间产物 2.快速技术提供实时分析,将获得分析结果的时间滞后减到zei少 3.在实际反应条件下实时监测反应起点、终点、反应进程及转化率 4.踪反应物、中间物和产物瞬时
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奥林巴斯XRF合金分析仪分析仪
Delta经典型DE-2000合金分析仪技术性能1. 真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。2. 只需将合金分析仪直接接触待测合金表面,无须等待和花费时间即可现场
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