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电镀用X射线荧光分析
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm钨X射线管或钨微聚焦管(XULM
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LAMBDA 750K探测器
性能参数:LAMBDA 750K作为标准版本的LAMBDA探测器提供了人性化的设计以及优越的性能。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X射线的探测
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LAMBDA 350K 探测器
性能参数:LAMBDA 350K采用GaAs材料或者CdTe材料的,该版本将搭配在2x3 Medipix3芯片上。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X
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LAMBDA 定制化产品
所需的配置。X-Spectrum公司已经完全对LAMBDA 2M wide探测器的工程研究,其感光面积约为255 x 28 mm2。想要了解更多详情,请联系我们。 LAMBDA 9M & 21M
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LAMBDA 2M 探测器
性能参数:LAMBDA 2M采用多个模块拼接的技术连接,将提供zei大的检测区域。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X射线的探测,GaAs和CdTe
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X射线残余应力分析仪
材料数据库◆ 对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内 X射线残余应力分析仪软件 ◆ 操作系统: Windows◆ X射线的发生和控制◆ 实时监控高压系统◆ 多种X射线曝光模式◆ 可同时进行
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X射线残余应力分析仪
在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 X射线残余应力分析仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。
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Bowman X射线荧光分析仪
产品描述:美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析
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X射线相机
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激光小孔X射线应力分析仪
激光小孔法X射线应力分析仪钻孔系统可用于多种晶体和非晶体以及单相和多相材料。 需要进入测量位置进行垂直钻孔和照明。孔尺寸范围是0.5-3mm(0.02-0.12英寸)。 激光小孔法X射线应力
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