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TM3030Plus日立高新台式显微镜
仪器种类:钨灯丝 能源节约型设计,结构紧凑 扩展了在低真空条件下的观察性能。 TM3030Plus可以在低真空条件下进行二次电子图像观察。Plus1:配备高灵敏度低真空二次电子
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台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
度低真空二次电子检测器采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光,可以观察带有二次电子信息的图像。此外,通过控制该检测器,来检测电子照射所产生的光
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激光观察仪
一款手持式激光观测仪,适用于近红外波长范围的测量。该仪器由高分辨率图像转换器,高压电源,专用Infragon物镜和其他精密光学部件组成,能够观察到肉眼无法看到的物体,并且获得清晰的图像
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Edmund激光观察套件
) 手持式设备?可查看IR光源并对准IR激光?产生明亮的高对比度图像?能与C接口透镜搭配使用通用规格分辨率:40 lp/mm功率要求:(1) standard "C" cell alkaline
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红外激光观察仪
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FJW激光观察仪
FIND-R-SCOPE®84499是一款手持式激光观测仪,适用于近红外波长范围的测量。该仪器由高分辨率图像转换器,高压电源,专用Infragon物镜和其他精密光学部件组成,能够观察到肉眼无法
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高分辨场发射扫描电镜
观察;高亮度肖特基电子枪可得到高分辨率/高束流/低噪声的图像;镜筒中的In-Beam二次电子探测器用于小工作距离条件下二次电子的检测;独有的三透镜大视野观察设计,提供了多种工作模式和显示模式,体现了
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日立高新TM4000/TM4000Plus扫描电镜
项目TM4000PlusTM4000放大倍率×10~×100,000 (底片倍率)×25~×250,000 (显示器倍率)加速电压5 kV、10 kV、15 kV图像信号背散射电子二次电子合成
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高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000
~ 360° *2τ-25 ~ 45° *2最大样品尺寸正方形边长6 mm × 厚度2 mm 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构
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日立高新SU9000超高分辨率场发射扫描电子显微镜
:0.8mm×8.5mm×3.5mmH信号检测器二次电子探测器TOP 探测器(选配)BF/DF 双STEM探测器(选配) 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设
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