二次离子质谱
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EQS二次离子质谱探针
径: 9mm·最高加热: 250℃·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝 EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子
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SIMS二次离子质谱工作站
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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KORE SURFACESEER S: TOF-SIMS二次离子质谱
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KORE SURFACESEER I: TOF-SIMS二次离子质谱
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TOF.SIMS 5 飞行时间二次离子质谱
离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的分析系统。通过对样品表面进行轰击产生的二次离子,可以精确确定表面元素的构成。通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构。配合
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syft选择离子流动管质谱
SIFT-MS的原理:SIFT-MS使用超软、精确控制的化学电离反应配上优良的质谱检测技术,可快速定量分析浓度低至pptv级别的VOCs和一些无机气体。Syft 仪器可采用多达8种试剂离子
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傅立叶变换离子回旋共振质谱
此项新技术是这些年来第一次真正的热分析联用创新,是建立在无需制备样品就可直接测量离子回旋加速器频率和计算相应质量的质谱技术基础上的。这个方法的一大优势就是不会破坏逸出分子,能轻松进行不同
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ionKey/MS质谱易用离子源
提升灵敏度 简洁的用户操作 用有限的样品执行多个分析 分析较少量的样品 减少溶剂消耗 ionKey/MS将UPLC分离集成入质谱仪的离子源中,提升灵敏度,简洁
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amaZon SL 离子阱电喷雾质谱
amaZon SL.pdf1、分辨率: 扫描范围: 50-2,200m/z 扫描速度32,000u/s, 分辨率 0.5 2、质量范围: 20-2,200m/z 及200-4,000 m/z
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