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俄歇电子能谱 AES
及组成的分析。其特点在俄歇电子来自浅层表面,仅带出表面的资讯,并且其能谱的能量位置固定,容易分析。项目介绍所用仪器:扫描俄歇电子能谱仪服务价格:1000 元依据标准号:JY/T 013-1996依据
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PHI 710俄歇电子能谱仪
PHI710主要特点:l SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中,包括谱图,深度剖析及元素分布像,需要先在SEM图像上定义样品分析区域,必然要求束
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PHI 4700 AES俄歇分析仪
分析器、10 kV LaB6扫瞄式电子枪、5 kV浮动柱状式Ar离子枪及高精密度自动样品座。针对例行性的俄歇纵深分析、微区域的故障分析,提供了全自动与及高经济效益的解决方法。PHI 4700是建基于
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岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+
歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜(AES和SAM)等等AXIS SUPRA+高效智能工作流程适合多用户环境高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的
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PHI 5000 Versaprobe III 多功能型扫描XPS微探针
改善的俄歇SAM技术提供了更高的灵敏度和更好的信噪比,可同时进行REELS分析。原位低能反光电子能谱 (LEIPS) 可在较低电子能量下(对材料无损伤)测试样品的导带信息。 PHI5000
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日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪
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日本电子JED-2300T 能谱仪
过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。 JED-2300T 能谱仪JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成
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硬X射线光电子能谱仪
全自动化的XPS系统采用一束扫描、聚焦、单色化的Al X射线源以及一束扫描、聚焦、单色化Cr X射线源用于高空间分辨率的化学态分析和HAXPES* ( 硬X射线光电子能谱分析)。Al单色化X
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JPS-9030 光电子能谱仪
分析范围JPS-9030采用全新设计的用户界面,进一步提升了可操作性,外观设计现代,时尚。 优化了对深度剖析的应用新开发的考夫曼型蚀刻离子源能提供的蚀刻速率为1 nm/分钟至100 nm /分钟
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巴歇尔槽 巴歇尔污水计量槽
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