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ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪
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海洋光学薄膜反射光谱仪系统NanoCalc
NanoCalc系统NC-UV-VIS-NIR重量:250-1100 nm厚度:10 nm-70 µm光源:氘卤灯 NC-UV-VIS重量:250-850 nm厚度:10 nm-20 µm
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椭圆偏光膜厚测试仪(自动
奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格
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德国Diener PECVD等离子体化学气相沉积设备
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膜厚测量仪
光学薄膜测量仪。? 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。? 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。? 无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。? 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k
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KYKY油润滑涡轮分子泵系列
/1600型涡轮分子泵F-400/3500型涡轮分子泵F-400/3600型涡轮分子泵 适用于工业检漏、PVD、CVD、离子注入、真空电子元器件制造、Low-E玻璃、ITO玻璃、光学薄膜、太阳能电池
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450型电子束蒸发镀膜系统
:质量流量控制器1路 石英晶振膜厚控制仪:监测膜厚显示范围:0-99μ9999? 450型电子束蒸发镀膜系统用于制备导电薄膜、半导体薄膜、铁电薄膜、光学薄膜等,广泛应用于大专院校、科研机构的科研及
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BS-80011BPG产生高密度等离子体的内置型等离子体枪
的等离子体源。利用和真空蒸镀结合的等离子体辅助沉积技术(离子镀),能提高光学薄膜、保护膜、功能膜等的薄膜特性。另外,还可以用作等离子处理如对清洗基板和表面改性也很有
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光谱椭偏仪
,快速实现玻璃盖板上多层薄膜物性表征分析。光谱椭偏仪SE-Glass 广泛应用于玻璃基底山减反膜、调光膜、导电膜等薄膜的膜厚,光学常数测量,完美适用于玻璃盖板、光学薄膜等镀膜检测应用。 产品简介
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大塚电子膜厚仪FE-300
适用范围●多层膜●非干涉膜●超晶格结构●光学薄膜(ARfilm、ITO)●FPD(ITO、PI、PC、CF) 非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析 FE-300膜厚仪产品特点●测试
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