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光致发光测试仪
/a yes yes9、外延片快速映射功能测试: 标准:EL(电致发光),PL(光致发光),EL / PL相结合,IV,反向特性,翘曲。 可选:膜厚
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光致发光影像系统--Helios
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外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统
仪器简介:外延片PL谱扫描成像仪用于快速在线检测发光二极管外延片的质量,主要用于发光二极管外延片和芯片生产线.生成高分辨率的图谱和测定薄膜厚度等。本仪器为外延片生产工艺优化控制提供
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MaxMile Technologies 光致发光测试仪
产地属性美洲EpiEL-700是为带有光透明衬底的LED外延片快速电致发光评估设计的。 EpiEL-700 is optimized for rapid electroluminescence
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电致发光光致发光测试仪
产地属性:美洲EpiEL-300,也被称为电致发光/ 光致发光联合测试仪,是专为有光致发光性能的LED外延片的快速电致发光评估设计的。 EpiEL-300,也被称为电致发光/ 光致发光联合测试仪
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光致发光光谱成像测量系统
PMEye-3000光致发光光谱成像(PL-Mapping)测量系统是卓立汉光zei新研制的,用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等,在生产线上的质量控制和实验室中的产品
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PL光致发光光谱测量系统
仪器简介: PL光致发光光谱测量系统介绍 (电致发光) 光致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL荧光
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CEL-QYQE绝对量子效率测量系统
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绝对量子效率测量系统Quantaurus-QY
测定。●分析不同形式的样品●测定发光材料的绝对光致发光量子效率(光致发光测量)●采用积分球测量整个谱域●制冷型背照式CCD传感器实现超高灵敏度和高信噪比测量●激发波长的自动控制●空间集约的紧凑型设计
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Flex One 显微光致发光光谱仪
参数规格表: 主型号Flex One光谱范围300-2200nm光谱分辨率0.1nm激发光可选波长266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等
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