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冷场发射球差校正透射电镜
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使
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日立冷场发射扫描电镜SU8600
减速模式下机型SU8600 系列电子光学系统二次电子像分辨率0.6 nm@15 kV0.7 nm@1 kV *放大倍率20 to 2,000,000 x电子枪冷场发射电子源,支持柔性闪烁功能,包含
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JEM-F200冷场发射透射电镜
超高分辨极靴高分辨极靴分辨率TEM点分辨率0.19 nm0.23 nmSTEM-HAADF 像0.14 nm @冷场枪0.16 nm @冷场枪0.16 nm @热场枪0.19 nm @热场枪
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日立高新S-4800冷场发射扫描电子显微镜
二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV,减速模式);1.0nm (15kV) 电子光学: 电子枪: 冷场发射电子源 加速电压: 0.5~30kV(0.1KV/步,可变) 放大倍率
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日本电子JSM-6701F冷场发射扫描电子显微镜
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日本电子JSM-7500F 冷场发射扫描电子显微镜
电子枪冷场发射 物镜semi-in-lens物镜分辨率1.0 nm @ 15 kV、1.4 nm @ 1 kV加速电压0.1~30kV束流1pA ~ 2nA自动光阑角zei佳控制透镜内置倍率x
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日本电子JEM-Z200FSC (CRYO ARM 200)场发射冷冻电子显微镜
主要技术参数主机 电子枪 冷场发射电子枪 加速电压 200kV 能量过滤器 柱体内Ω能量过滤器 zei大样品倾斜角 ±70o ※ 热场发射电子枪也可以配置样品台/自动样品更换系统样品台 制冷
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日立高分辨型双束系统NX5000
仪器分类: FIB-SEM产地: 进口NX5000新型高分辨FIB-SEM双束系统采用冷场发射电子枪和全新的Aquila α镜筒,具有高分辨的观察能力。NX5000新型高分辨FIB-SEM双束系统
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ZEISS ΣIGMA热场发射扫描电镜
ZEISS ΣIGMA 电镜为肖特基(Schottky)热场发射扫描电镜。目前欧美地区比较推崇热场发射电镜,而日本较热衷于冷场发射电镜。该场发射扫描电镜主要有如下特点:1.探针电流较大,可达
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日立高新SU8200系列场发射扫描电子显微镜
型冷场发射电子枪,低加速电压下,也可获得高信噪比的SEM信号并进行高分辨观察 创新型冷场发射电子枪具有超高分辨率和电子束稳定性 这种新型的冷场发射电子枪采用日立zl的“柔性闪烁
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