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Thermo Scientific Niton™ XL3t XRF分析仪
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TOF.SIMS 5 飞行时间二次离子质谱
分析绝缘材料。5. 具有很小的信息深度(小于1nm);可以分析材料最表层(原子层)的结构。6. 70nm以下的空间分辨率,对于样品表面的组成结构一目了然。7. 可以探测的质量数范围包括12000原子量
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偏振型能量色散型X荧光光谱仪
模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。 偏振X射线能谱技术开创
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多功能偏振型X射线荧光光谱仪
模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。 德国传统的光学技术与现代
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Rigaku nano3DX X射线显微镜
钼,以及它们对实验的影响。随着X射线辐射能量的增加,渗透率增加,但低原子量材料的对比度下降。对于骨和硅酸盐,Mo是优选的,但对于含碳材料,优选Cu或Cr。这种灵活性对于快速获得高质量,高对比度的图像
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XFlash 7T TEM QUANTAX EDS 透射电子显微镜能谱分析仪
展示了几个 SiO2 颗粒以及其外壳的结构信息。由于外壳层包含的元素原子量高,这个磁性外层在HAADF对比度中比Si亮得多。该试样由一个 SiO2 球体组成,该球体涂有纳米薄层钽(Ta)和铑(Ru)最
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