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双折射应力仪
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双折射显微成像系统
产地属性美洲 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合CCD多个像素元形成详细细致分布
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定量双折射成像系统
CRI的Abrio成像系统提供了一种独特的方法来测量和分析样品中的微小量级双折射。用偏振光测量双折射率的空间分布的传统方法繁琐且耗时。Abrio技术通过自动化定量极化显微镜的过程,打开了双折射
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150AT应力双折射测量系统
or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射
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双折射应力仪 PA-200
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红外双折射分布测量仪
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美国Hinds 应力双折射测量系统
美国Hinds成立于1971年,凭借其zl的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界上最高的精度,可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角
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非球面透镜应力双折射测量系统
) 利用光弹调制器技术,Hinds 公司的应力双折射测量系统可以在深紫外(193nm)波段进行应力双折射探测。不规则非球面光学元件应力分布测量系统(光刻机透镜测量等)世界首台不规则非球面光学元件
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棱光技术WYL-4应力双折射仪
如受机械作用等原因,其内部会产生内应力,引起双折射。晶体物质本身具有双折射的光学特征。WYL-4应力仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理,通过对样品的光程差的定量测定,确定样品应力双折射的大小。本仪器
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PL显微大相位差双折射应力仪WPA-Micro
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