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双折射应力仪
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双折射显微成像系统
产地属性美洲 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合CCD多个像素元形成详细细致分布
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定量双折射成像系统
CRI的Abrio成像系统提供了一种独特的方法来测量和分析样品中的微小量级双折射。用偏振光测量双折射率的空间分布的传统方法繁琐且耗时。Abrio技术通过自动化定量极化显微镜的过程,打开了双折射
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150AT应力双折射测量系统
分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择
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双折射应力仪 PA-200
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红外双折射分布测量仪
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美国Hinds 应力双折射测量系统
美国Hinds成立于1971年,凭借其zl的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界上最高的精度,可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角
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Crysta 高速偏振相机
是一款高速偏振相机,用于双折射测量、膜厚分析和表面粗糙度检测的二维分析,是理解材料和流体的双折射、延迟、应力和冲击断裂机制等现象的有力工具。该2D偏振相机基于100万像素CMOS图像传感器,像素尺寸
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OLYMPUS BX43-P 偏光显微镜 + C C D 相机
相机也有不同规格可选 偏光显微镜比普通显微镜增加了偏光装置,利用了晶体的双折射特点,便于观察晶体 · 用于观测化妆品物料晶体结构,水包油和油包水乳化类型、微生物、与XRF联用阳性确证石棉等· 偏光
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PPLN晶体
, 30.50, 31.00, 31.50, 32.00, 32.50 160 - 200 1 0.5 x 0.5 SHG7-10 10 PPLN是一种高效的非线形晶体,获得最大的波长转换效率必须对
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