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塞贝克系数/电阻测量系统
圆形φ2-4mm*6-22mmL加热方式:红外加热 气氛:高纯氦气(99.999%) 样品温差:MAX.50℃ 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点
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电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜
测量精度: 100 nV 测量结果重复性: 优于3% 误差 塞贝克系数: < 3% (半导体) < 5% (金属) 电导率
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耐驰 SBA458 塞贝克系数测量仪
技术参数(持续更新中):-温度范围:-125 … 800°C/1100°C -塞贝克系数范围:10 ... 2000μV/K -电导率范围:0.05 ... 150000S
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扫描热探针塞贝克导热系数仪 STPM-1000
扫描热探针塞贝克导热系数仪 STPM-1000说明:此产品售前技术交流服务和售后技术服务由北京柯锐欧科技负责,确保国内用户享受到最专业的技术支持! STPM-1000测量参数塞贝克系数、热导
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Linseis林赛斯LZT-Meter塞贝克/导热联测仪
测量仪器。可同时测量6个样品。可通过更换炉体使测量温度范围从-100—1500 °C。 热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小,单位是V/K
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塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-4 (超低温版)
塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-4 (超低温版)测试参数:电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数温度范围:4K-300K(-269℃—室温)低温技术:低温制冷机作冷源,无需消耗液氮/液氦概 述
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塞氏盘
悬浮物所造成的浑浊程度)和色度(悬浮生物和溶解有机物造成的颜色)。在使用时将塞氏盘下沉到刚好看不清的深度,称为塞氏盘深度,以此来标定水质透明度。2、产品用途用于测定水质透明度。产品特点1、材质:亚克力
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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
ZEM-d技术参数测量参数 塞贝克系数,电阻率温度范围 最高200℃(样品表面)样品尺寸 截面:Φ20mm(Max),长度:0.01-20mm测量氛围
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热电性能分析系统 ZEM-3
!ZEM-LZEM-LSZEM-3M8ZEM-3M10测量温度-80℃-100℃-100℃-500℃RT-800℃RT-1000℃控温精度 ±0.5K测量原理 塞贝克系数:静态直流电
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热电性能分析系统 ZEM-5
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