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Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
少子寿命测量仪BCT-400BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的
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德国Sentech光伏测量仪SENperc PV
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CEL-RCCO多晶硅标准太阳能电池
尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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多晶硅和单晶硅标准太阳能电池
规格参数尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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少子寿命测试仪
不需钝化处理 能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭 可以选择测试样品上任意位置 能提供zl的表面化学钝化处理方法 对各道工序的样品均可进行质量监控: 硅棒、切片的出厂、进厂检查 扩散后的硅片
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牛津仪器OPAL原子层沉积系统(ALD
ALD应用举例:纳米电子学高k栅极氧化物存储电容器绝缘层-铜连线间的高纵横比扩散势垒区有机发光二极管和聚合物的无针孔钝化层钝化晶体硅太阳能电池应用于微流体和MEMS的高保形涂层纳米孔结构的涂层
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瞬渺镀膜机 SiNx-PECVD
用于制备多晶硅太阳电池的氮化硅涂层沉积设备 MVSSilicon Nitride Coating Systems for Multi-crystalline Silicon Solar
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光伏椭偏仪
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filmetrics 台式膜厚测试仪 F20
测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 ,F20系列膜厚测试仪的具体的应用实例:1.非晶态多晶硅硅元素以非晶和晶体两种形式存在
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快速热化学气相沉积系统(RTCVD
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国办印发《关于创新完善体制机制 推动招标投标市场规范健康发展的意见》
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