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完全无液氦综合物性测量系统
温度范围:< 1.8 to 400 K (连续低温控制和温度扫描模式)温度稳定性:±0.1% for T < 10 K (typical)±0.02% for T > 10 K (typical
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综合物性测量系统
由一个主机和各种测量和拓展选件构成。主机提供了一个强磁场(超导磁体)和极低温的实验环境(液氦温区),用户可以根据自己的研究需要选择购买测量电学、磁学、比热、热电输运等性质的选件,系统的可扩展性甚至允许
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低温综合物性测量系统 CPMS-4
mm;宽:5~15mm;高:1~5 mm圆柱体:Φ8~15 mm×2~15mm比热测量单元测量精度:优于5%样品尺寸:0.3g-10g 低温综合物性测量系统 CPMS-4 电学性能:电导率
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土壤水分测量系统价格
技术参数: 土壤水分测量范围:(可选多层)0~100精度:±3%分辨率:0.1% 土壤温测量度范围:(可选多层)-40~120℃精度:±0.2℃分辨率:0.01℃ 土壤水分测量系统
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材料高温综合物性测试仪
技术参数:SQW-II-14材料高温综合物性测试仪 本仪器适用无机金属材料高温、常温综合性能的测定,也适用模拟液态金属向铸型中浇注的真实情况所进行的造型混合料高温性能试验
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无液氦低温STM/qPlusAFM系统
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导电材料物性综合测试仪
技术参数:1. 主要测试功能模块:膨胀系数,电导率,热导率,电阻率等。 2. 测试温度:室温--1000℃. 3.温度测试精度:0.1℃. 4.升温速率:0-10
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导电材料物性综合测试仪
技术参数:RPT- II 导电材料物性综合测试仪 该仪器用于导电材料的全性能分析,主要包括:电导率分析,膨胀系数分析,导热系数分析等物理性能。实现一机多用,多功能 ,广泛用用
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牛津仪器TeslatronPT无液氦磁体低温系统
技术参数:温度范围:1.5K-300K;磁场大小:8T,9T,12T,14T等;样品空间直径50mm主要参数: 变温插杆参数 温度范围* 1.5 K to 300
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美国RHK无液氦低温STM/qPlusAFM系统
systems > 扫描范围40X40 um; > 磁场强度0 -15Tesla; > 变温范围mK - 300K; >极高分辨率...... 无液氦低温STM/qPlusAFM扫描探针显微镜系统
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