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SMX-3100M X射线探测装置
【标准规格】主要规格装置型号SMX-3100MFI-3100MX射线发生装置微焦点X射线装置小焦点X射线装置最大管电压130 kV(标准配置)150 kV(选购项)150 kV功率最大75 W①最大
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X射线异物分析装置 EA8000
行元素分析。 EA8000是,与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物,再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析,是指通过将元素分布作为
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岛津微焦点X射线检查装置SMX-800
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FemtoX-II -桌面超快X射线动态诊断装置
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FX-700荧光X射线硫含量分析装置
■ 测定原理:波长射散荧光X射线分析法 根据JIS K2541-1 ISO 20884 ASTM D2622 ■ 设置环境:室温:10~30℃(日内变动幅度10℃以下) 湿度: 75
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丹东奥龙X射线探伤机激光定位装置
激光中心指示器,实现准确定位和标准焦距测定,不仅能够降低人力,物力成本,还极大地缩短了检测周期,从而提高了探伤机的使用效率。 激光中心指示器,实现准确定位和标准焦距测定,不仅能够降低人力,物力
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XtaLAB P200 小分子单晶X射线分析装置
以前的20%(与CCD比较)、低使用成本 新一代小分子单晶X射线分析装置。PILATUS是新一代探测器,以前仅仅用于同步辐射。其卓越的性能可以将测量时间缩短到以前的20%(与CCD
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能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100
1mmΦ,少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ,根据样品的形状可以选择更为适合的照射直径。选择5mmΦ准直器时,使用微量样品容器标配CCD样品观察装置通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测
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EDX-LE能量色散型X射线荧光分析装置
/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标
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EDX-GP能量色散型X射线荧光分析装置
测量原理:X射线荧光光谱法测量方式:能量色散测量样品类型:固体、液体或粉末测定范围: 13Al ~ 92U样品室zei大尺寸:宽370mm宽 × 321mm深 × 155mm 高X射线发生器X
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