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少子寿命测试仪
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少子寿命测试仪
Testers frequently asked questions本产品可适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm。 仪器简介:少子寿命测试仪性能参数:测量原理 QSSPC
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Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
少子寿命测量仪BCT-400BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的
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KDK-LT-1高频光电导少子寿命测试仪
情况,是单晶质量的重要检测项目。 1:高频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 型号:KDK-LT-1 用途用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块体形无严格要求,可
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德国Sentech光伏测量仪MDPspot
产地属性:欧洲本产品具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。 德国Sentech光伏测量仪MDPspot,灵活的自动扫描系统 具有成本效益的台式少子寿命测试仪
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弹簧疲劳寿命测试仪
一、弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪介绍: 本弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪主要用于各种螺旋弹簧、碟形簧和减震器、密封件弹簧等的疲劳寿命试验。广泛应用于弹簧、减震器生产、应用等
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锁体寿命测试仪
锁体寿命测试仪概述:锁体寿命测试仪专为检测模拟锁具的锁体而使用寿命而设计,可以适应多种锁具的检测,采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求,直接在操作屏幕
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锁体旋钮开关寿命测试仪
设备概述:锁体旋钮开关寿命测试仪适用于智能门锁的防盗保险销寿命模拟测试。锁体旋钮开关寿命测试仪技术参数:1试验工位:2工位 同时运行 2次数0-999999次可设定3试验速度5-60次/分可调
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sinton instruments+suns-Voc测试仪
suns-Voc测试仪如何利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化少子寿命,PN结的好坏,表面及体内的复合情况,材料质量、钝化效果等" b3 X _6 K$ b1 u" ~- I. E1
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SB100A-2 四探针金属/半导体电阻率测量仪
、PN-30 导电类型鉴别仪、PN-12 导电类型鉴别仪、LT-2 单晶少子寿命测试仪、LT-3 单晶少子寿命测试仪 由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足
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2023仪器产业营收超1万亿,这些仪器公司增长显著
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