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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
集成原子力显微镜(AFM)、摩擦力显微镜(LFM)、扫描隧道显微镜(STM)、磁力显微镜(MFM)和静电力显微镜(EFM) ■ 原子力显微镜具有接触、轻敲、相移成像、抬起等多种
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
进样,无需手工粗调 ● 只需要更换探针架,即可在STM和AFM等不同类型仪器中切换 ● 全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制 ● 探头
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布鲁克Innova 扫描探针显微镜
技术参数:闭环扫描管:XY > 90 μm,Z > 7.5 μm开环扫描管:XY > 5 μm, Z > 1.5 μm样品尺寸: X-50 mm x 50 Y-mm x Z-18 mm电动Z轴
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全自动多功能扫描探针显微镜/AFM
+ 力刻蚀) 扫描方式:样品扫描测量头部:AFM和SPM(全内置自动切换),可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸:直径20mm,厚度10mmXY样品定位装置:移动范围5×5um,软件控制电动定位
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MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜
技术参数 1.扫描系统: 1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量 1.2 zei大扫描范围:50μm*50
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探针,AFM探针,原子力显微镜探针,耗材
原子力AFM探针:VEECO为您提供范围zei广价格zei优惠的AFM探针。这些探针的悬臂都具有不同的几何尺寸和机械性能,能满足各种不同的需求:探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和
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布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统
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日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II
OSWindows®7连接机型AFM5100N、AFM5300ERealTuneII悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益(Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point
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Inspire红外原子力显微镜
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布鲁克Dimension FastScan原子力显微镜
,零压电蠕变和极低噪音的设计保证在任意合适的纳米操控系统中实现最准确的定位。在各种 AFM 模式下扫描时,使用加热-冷却设备对样品进行温度控制,温控范围从-35°C 到 250°C。或使用探针对百纳米
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