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X射线残余应力分析仪
材料数据库◆ 对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内 X射线残余应力分析仪软件 ◆ 操作系统: Windows◆ X射线的发生和控制◆ 实时监控高压系统◆ 多种X射线曝光模式◆ 可同时进行
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X射线残余应力分析仪
在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 X射线残余应力分析仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。
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激光小孔X射线应力分析仪
激光小孔法X射线应力分析仪钻孔系统可用于多种晶体和非晶体以及单相和多相材料。 需要进入测量位置进行垂直钻孔和照明。孔尺寸范围是0.5-3mm(0.02-0.12英寸)。 激光小孔法X射线应力
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STRESS-X 残余应力分析仪
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应力仪
仪器简介:通过测定透明物体由于内应力而产生的双折射现象来进行快速、大量的检验。广泛用于光学玻璃、玻璃制品、透明塑料制品工业。技术参数:应力测定范围:≤560nm 全玻片光程
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应力仪
主要技术数据应力测定范围 560nm(一级干涉色)以下全波片光程差 560nm检偏镜通光口径 ф150nm台面玻璃通光口径
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DST-17高分辨应力分析仪
质量管理体系的要求。 浩元公司推出的DST-17型X射线应力分析仪,为材料及其制品研究提供最可靠检测手段。可对多领域的材料结构、不规则形状的部件进行残余应力、织构精确测量。 DST-17高分辨应力
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便携式X射线残余应力分析仪
Pulstec公司成功克服技术难点,发布了新的产品型号:μ-X360s,将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升级! 便携式X射线残余应力分析仪日本Pulstec公司制造 型号
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SPIDER X 便携式残余应力分析仪
仪器简介SPIDER X 是一款便携式残余应力分析仪,符合 ASTM E915 及 EN 15305 残余应力国际分析检测标准。SPIDER X 配备了高性能专业X射线半导体检测器,本检测器
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X射线残余应力分析仪测定仪
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