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WinWInTec白光干涉形貌仪
应用领域:Wafer晶片,微流控系统,金刚石工具,汽车气缸,光学镜片,金属表面,机身外观(汽车),粗糙度标准片。详情见产品手册。technology measurement principle
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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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三维形貌仪
NanoMap-1000WLINanoMap-1000WLINanoMap-1000WLI三维形貌仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素
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快速温度变化试验机
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温度快速变化试验箱
设备符合标准GB/T2423.1-2001 电工电子产品基本试验规程 试验A:低温试验方法GB/T2423.2-2001 电工电子产品基本试验规程 试验B:高温试验方法GB2424.1-89
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快速温度变化试验箱
快速温度变化试验箱主要技术参数: 温度范围 :-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃~+150℃ 湿度范围 : 20% -- 98% 温度波动度
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快速温度变化试验箱
产品简介品牌ETERNAL/永恒产地类别国产应用领域石油,电子,交通,航天,汽车 快速温度变化试验箱:让用户满意的产品。供仪器、仪表、电子产品、材料、零部件、设备等作为应力筛选试验,以便对试品
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硅片表面形貌测量VIT系列
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, bottom CD
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三维表面形貌仪
、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。 主要特点: ◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
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三维表面形貌仪
三维表面形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s
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