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济南微纳Winner802纳米激光粒度分析仪
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动态光散射粒度分析仪
工作原理:动态光散射法(DLS),有时称为准弹性光散射法(QELS),是一种成熟的非侵入技术,可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布,使用zei新技术,粒度可小于1nm。 动态光
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纳米激光粒度仪
。 产品简介: Winner802光子相关纳米粒度仪是国家科技型中小企业技术创新基金项目成果(立项代码:10C26213704395),也是国内首款采用动态光散射原理的纳米粒度仪。其测量原理
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济南微纳Winner100湿法动态颗粒图像分析仪
产品简介:Winner100湿法动态颗粒图像分析仪是济南微纳推出的一款划时代的颗粒测试设备。众所周知,静态颗粒图像仪虽然有观测直观、数据丰富等优势,但也有其固有的问题,就是取样数量少,难以分散
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Winner2009智能型湿法大量程激光粒度仪
运用微纳独创的无约束自由拟合技术,粒度分析不受任何函数的限制,可真实反映颗粒的分布状态。微纳zl光路设计采用会聚光傅立叶变换zl技术,使散射光不受透镜孔径限制;采用双谱面光路设计,有效扩大测量范围至
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NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪
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NS-90Z纳米粒度及电位分析仪
的粒度和电位分析功能,能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度,采用电泳光散射技术测定颗粒
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NS-90 Plus纳米粒度分析仪
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BeNano 180 纳米粒度分析仪
- 爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果。 产品介绍BeNano 180 纳米粒度分析仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光
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Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪Nanotrac wave II
粒度分布和Zeta电位分析数据。 仪器简介:纳米粒度测量——最新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS
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