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德国菲希尔MP0涂镀层测厚仪
;操作手册; MPO涂层测厚仪_MP0测厚仪_MP0 概述。 MPO涂层测厚仪_MP0测厚仪_MP0 概述。 德国MPO 涂层测厚仪 是德国菲希尔公司在MPOR涂层
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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适
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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。 FISCHERSCOPE
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
精力。依靠FISCHER所采用的的完全基本参数法,可以在没有标准片校正的情况下分析固、液态样品及测量样品的镀层厚度。 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路
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菲希尔FMP10-40 系列涂镀层厚度测量仪
FMP10—FMP40 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果,多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感应测量 (DELTASCOPE®)、电涡流测量 (ISOSCOPE
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双功能涂镀层测厚仪
配置: 主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池 L200测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法,是一种超小型测量仪。 双功能涂镀层测厚仪型号:L200
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