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Spectra Ultra S/TEM扫描透射电子显微镜
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HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
透射电子显微镜:相衬图像(TE图像) 暗场扫描透射电子显微镜:原子序数衬度图像(Z衬度图像) 二次电子图像(SE图像) 电子衍射* 特征X射线分析和面分布(能谱
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赛默飞Metrios 6扫描透射电子显微镜((S)TEM)
透射电子显微镜人工智能、边缘计算、自动驾驶汽车和其他先进应用正在推动半导体领域前所未有的投资和创新。提高生产力和数据完整性全新设计的 Smart Stage 和新的 Ultra-X EDS 检测系统可
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Themis透射电子显微镜
多种材料的出色原子级表征 Themis Z Themis Z 通过单一物镜极靴设计,可针对二维、三维和四维材料进行高分辨率的低损、高灵敏度成像和分析
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赛默飞世尔Spectra 300 S/TEM扫描透射电子显微镜
Spectra 300 (S)TEM的规格图像矫正器能量散布:0.2–0.3 eV信息限制:60 pmSTEM 分辨率:136 pm探针矫正器:能量散布:0.2–0.3 eV信息限制:100
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扫描电子显微镜
技术参数:●二次电子图像分辩率:3.5mm ●倍率: X20~X300,000 ●加速电压: 0.5~30kv ●样品可观察范围: 125mnφ 新一代的
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MiniTEM 小型透射电子显微镜
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H-9500透射电子显微镜
为了满足这种高端需求,日立高新技术公司研发出了H -9500透射电子显微镜,此款高分辨透射电子显微镜不仅具备实地验证过的各种优秀性能,而且配置了很多满足客户多种需求的独特功能,并采用
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JEM-2100 透射电子显微镜
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JEM-2500SE 透射电子显微镜
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