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Bi2Se2Te晶体
产品名称:Bi2Se2Te晶体产品简介:常规热电材料,是当前热电因子最大的纯相块体,机械解离可以获得优质的拓扑绝缘体材料.绝缘性好,电阻率高,迁移率好。产品参数:晶向:Hexagonal
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量子钻石原子力显微镜Diamond III
,可实现磁学性质的定量无损成像,具有纳米级的高空间分辨率以及单个自旋的超高探测灵敏度,是研究材料磁学性质的新利器,在磁畴成像、二维材料、拓扑磁结构、超导磁学、细胞成像等领域有着广泛应用。 产品特点专业
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在线电导率电阻率温度变送器3321/3331
3321/3331工业在线式电导率/电阻率/温度变送器特点工业在线式电导率/电阻率/温度变送器,标准1/8DIN设计校正值断电记忆功能带LCD背光显示4~20mA隔离电流输出(3331)二组
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DT-612接触式测温仪
DT-612技术指标说明:量程分辩率基本精确度DT612-50℃~1300℃0.1℃±0.5±1℃or±2℉双温输入 l 超大31/2(1999位)带功能带提示液晶显示
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非变性质谱分析(Native MS
结构的蛋白质和蛋白质复合物的结构学、拓扑学和构造。可用于单克隆抗体/ADCs类药物 、PEG修饰蛋白质、低聚蛋白药物、糖型和组装蛋白质的表征进行分析。同时,Exactive Plus EMR 质谱仪的
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近场光学显微镜alpha300 RS
剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图:表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图:石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像:连续扫描的拉曼高光谱全谱成像,每个样品点都能获得
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WinRHIZO STD4800 LA2400根系分析系统
、连通性等形态特征)、根系拓扑分析(研究根系连接数量、路径长度)和根系分级伸展分析(记录根系整体等级分布情况)。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。三、 组成:1
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7-PLSpec 系列光致发光光谱测试系统
玻璃或晶体材料产生的荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析材料能带结果等特征。 系统型号系统特点7-PLSpec I常温扫描型7-PLSpec II低温扫描型7-PLSpec MMini 摄谱型 技术指标
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SEA1100 X射线荧光土壤分析仪
:固体、液体、粉末 X射线管:小型空冷式X射线管球 检测器:Si半导体检测器(无需液氮) X-ray Station:笔记本电脑主要特点:可轻松将实验室的功能带到现场。 能够通过X射线荧光对土壤
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原子力声学显微镜AFAM
,基于样品局部的弹性、粘性和摩擦性质产生图象。这种分析类型叫做接触共振光谱学(contact resonancespectroscopy),并同时产生拓扑结构光谱和AFAM图象。 原子力声学显微镜是
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