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XF-8100型波长色散X射线荧光光谱仪
仪器漂移到zei佳运行状态; 4)仪器采用zei先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单,更符合用户生产工艺特点; 5)强大的数据库系统支持,实现各种基体、背景干扰校正; 6)测量生产样品
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DTW 罐体质量检查系统
。 3.6数理分析:电脑可对检测数据进行质量统计;直方图;离散度的数理分析工作。亦可以打印或另存输出分析报告。 4.0 仪器的特点: 4.1 改变了必须由生产厂家配置电脑的大问题,只要是可以安装
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罐体投影检查系统
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Rise-1020型全自动比表面积及孔隙度分析仪
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Rise-1010型全自动比表面积及孔隙度分析仪
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德国耶拿 novAA800 原子吸收光谱仪
原装 zeiss光学系统----非球面反射光学部件,改善成像质量----最少光学部件,最大光通量,改善信噪比----石英涂膜光学部件,光学系统防护罩,不受环境影响----光路密封,可选择光路吹扫功能
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仪电物光WBL-820比表面积及孔隙度分析仪
微孔体积和表面积,Dubinin―Astakhov微孔分布,Horvath―Kawazoe微孔分布;密度函数理论(DFT)和蒙特卡洛(MC)孔径分布模型等参数。【产品特点】⑴ 模块式气路
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仪电物光WBL-830比表面积及孔隙度分析仪
微孔体积和表面积,Dubinin―Astakhov微孔分布,Horvath―Kawazoe微孔分布;密度函数理论(DFT)和蒙特卡洛(MC)孔径分布模型等参数。【产品特点】⑴ 模块式气路
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仪电物光WBL-810比表面积及孔隙度分析仪
微孔体积和表面积,Dubinin―Astakhov微孔分布,Horvath―Kawazoe微孔分布;密度函数理论(DFT)和蒙特卡洛(MC)孔径分布模型等参数。【产品特点】⑴ 模块式气路
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Rise-1001全自动比表面积及孔隙度分析仪
;密度函数理论(DFT)和蒙特卡洛(MC)孔径分布模型等参数。测试数据可靠的保证连接管路的合理性、抽真空能力及传感器的灵敏度、精度和数目,仪器的自动化程度以及针对不同样品的数字模型的多少判断仪器优劣的
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