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大塚电子小角激光散射仪PP-1000
应用案例 l PVDF球晶半径分析 溶融温度230℃結晶化温度160℃PP-1000散射图样 偏光显微镜图样 各时间45°方向的散射向量提取 球晶半径计算 小角激光散射仪
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大塚电子膜厚仪FE-300
适用范围●多层膜●非干涉膜●超晶格结构●光学薄膜(ARfilm、ITO)●FPD(ITO、PI、PC、CF) 非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析 FE-300膜厚仪产品特点●测试范围
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大塚电子光纤光谱仪MCPD9800
高精度光谱仪MCPD—9800MCPD-9800为瞬间多通道测光检测器MCPD系列的最高级机型,与本公司以往的机型相比,实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及更高速、高重现性。最适合以高精度的
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大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
产品参数:OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3波長範圍230 ~ 800 nm360 ~ 1100 nm900 ~ 1600 nm膜厚範圍1nm ~ 35μm7nm ~ 49μm16nm
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Otsuka膜厚测量仪
产地属性:亚洲 FE-5OOOS 虽然和FE-5000有相同的基本功能,但是价格低,体积小。 在高精度薄膜分析的膜厚测量仪基础上,增加安装了自动角度调节装置,实现高速的薄膜测量和高精度的
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大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000
工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。光学方式为大冢电子独创,不仅外形小巧,无论透明?粗糙还是易变形的样品,都可以实现非接触式的高精度测量。特长非接触式测量不透明、粗糙,易变形的
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大塚电子量子效率测量系统QE-2000
应用领域:*用于测量LED、有机EL用荧光体的量子效率(量子产额)*用于测量薄膜形状样品的透射荧光、反射荧光的量子效率(远程荧光粉用荧光体样品等)*测量量子点、荧光探针、生物领域、有机化合物的
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絮凝剂Zeta电位测量仪
胶体颗粒在电场作用下,固液两相之间产生相对运动,使固相界面处的水化层有一相对于液相的电位差,称为Zeta电位. 絮凝剂 Zeta电位测量仪可用于测定分散体系颗粒物的固-液界面电性(ζ电位
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钻井液 Zeta电位测量仪
在1.6~13.0范围内使用,步长0.1温度:5℃到35℃,精度0.1℃,建议在恒温防尘室内使用使用环境:防震平台电源电压:220V 50Hz功耗:150W 钻井液 Zeta电位测量仪可用于测定分散
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絮凝剂Zeta电位测量仪
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