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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
参数:基本参数:型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)测量元素:原子序数13(Al)~92(U) X射线源:管电压:45 kV
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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日立EA1000VX X射线荧光分析仪
高速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。通过高速测定和材料辨别等各种新功能,检测效率得以大幅提高。也可对应膜厚测量以及贵金属分析等常规分析。特长EA1000VX产品规格测量元素原子序数13(Al
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日立分析 EA1400 X射线荧光分析仪
X射线荧光分析仪。对于各种应用领域的客户,例如水泥或矿渣的过程和质量控制,异常点的故障分析,异物检查以及RoHS检查,EA1400可以减少测量时间,简化了测量结果的管理,减少操作错误,提高效率
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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
主要特点:1.以较低的功率达到测硫0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。2. 六位样品自动进样系统提高仪器使用效率,节省人员工时成本。3. X光源照射面积大,分析均匀稳定4.扣
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
、比较表示使用电源:220V/7.5A自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。 通过自动定位功能,只需把样品放在样品
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