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薄膜测厚仪
,纸张等直接测量或比较测量,还可用于几何尺寸形位偏差的检测和机械加工过程中进给量的监控和在线检测。 薄膜测厚仪技术参数:1. 测量范围:0.001~12.5 mm2. 最小示值:0.001mm
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薄膜测厚仪
产品简介:高精度薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。主要参数: 专业名称:测厚仪 测量范围:0
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪仪器简介:提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图
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日立接触式镀层测厚仪
良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。 应用领域手持镀层测厚仪应用于电镀和金属镀层侧厚金属表面处理工艺必须确保在磁性基材上的电镀层或镀锌涂层的 厚度被精确控制,以预防成品缺陷。 在
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高端薄膜测厚仪
高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪,操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜,纸张
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手持非接触式湿膜测厚仪
这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化,其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度,避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业
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MProbe Vis薄膜测厚仪
, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。测量指标:薄膜厚度,光学常数界面友好强大: 一键式测量和分析。MProbe Vis薄膜测厚仪实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景
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MProbe RT薄膜测厚仪
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
测量范围: 1 nm -50um 波长范围: 200 nm -1000 nmMProbe UVVisSR薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料
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MProbe NIR薄膜测厚仪
:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等测量指标:薄膜厚度,光学常数界面友好强大: 一键式测量和分析。实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景和变形校正,连接层
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