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Zeta电位仪
于测定等电点、研究界面反应过程的机理。通过测定颗粒的Zeta电位,求出等电点,是认识颗粒表面电性的重要方法,在颗粒表面处理中也是重要的手段。与国内外其它同类型仪器相比,它具有显著的优越性。可广泛
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Zeta电位仪
),也可用于测量乳状液液滴的界面电性,也可用于测定等电点、研究界面反应过程的机理。 一、简介:通过测定颗粒的Zeta电位,求出等电点,是认识颗粒表面电性的重要方法,在颗粒表面处理中也是重要的手段
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zeta电位仪
(ζ电位),也可用于测量乳状液液滴的界面电性,也可用于测定等电点、研究界面反应过程的机理。 通过测定颗粒的Zeta电位,求出等电点,是认识颗粒表面电性的重要方法,在颗粒表面处理中也是重要的手段
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ZETA电位仪
探头, 自动连续对环境温度进行采样, 返回计算机,自动调整参数,用于计算Zeta电位。采用计算机多媒体技术, 在给定的节拍下, 自动对经高倍放大1200倍的超细颗粒连续“拍照”,提供双向共四幅灰度图像
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欧奇奥 Zephyr 图像法粒度分析仪
欧奇奥 Zephyr 图像法粒度分析仪 分析参数(1)粒形参数:等效面积直径,筛分直径(内切圆直径),平均直径,Crofton直径,颗粒长度,颗粒宽度,颗粒最大长度,体积(2)粒形参数
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全自动zeta电位仪
探头, 自动连续对环境温度进行采样, 返回计算机,自动调整参数,用于计算Zeta电位。采用计算机多媒体技术, 在给定的节拍下, 自动对经高倍放大1200倍的超细颗粒连续“拍照”,提供双向共四幅灰度图像
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Zeta电位测定 美国MAS
技术参数:1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;3)Zeta电位测量范围
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Zeta电位分析仪
Zeta电位分析仪技术参数:所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;Zeta电位测量范围
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欧奇奥 FC-200S 泡沫分析仪
欧奇奥 FC-200S 泡沫分析仪参数:多达43个粒径形貌参数的统计结果,可全面了解样品总体的概况(1)粒形参数:等效面积直径,筛分直径(内切圆直径),平均直径,Crofton直径,颗粒长度
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欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪
分析范围:用于2μm~20cm颗粒粒径及形貌分析欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪分析参数:多达43个粒径形貌参数的统计结果,可全面了解样品总体的概况(1)粒形参数:等效面积直径,筛分直径
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